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BEUKER光學輪廓儀：高效測量微納結構 BEUKER三維測量白光干涉光學輪廓儀為微納尺度表面檢測提供高效解決方案。其模塊化設計支持靈活配置，滿足多樣化測量需求

BEUKER白光干涉儀：表面形貌測量新選擇 BEUKER白光干涉光學輪廓儀采用非接觸式測量技術，適用于微納米級表面形貌分析。其核心部件采用高質量光學鏡頭和穩(wěn)定光源系統(tǒng)，確保測量數據的可靠性。

Bruker白光干涉儀高效非接觸式表面測量工具 Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款優(yōu)良的三維光學表面輪廓儀，廣泛應用于科研、工業(yè)和質量控制領域。該設備采用白光干涉技術，通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷，適用于多種材料和復雜表面的測量。

Bruker白光干涉儀：表面測量解決方案 Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款優(yōu)良的三維光學表面輪廓儀，廣泛應用于科研、工業(yè)和質量控制領域。該設備采用白光干涉技術，通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷，適用于多種材料和復雜表面的測量。

布魯克白光干涉光學輪廓儀微納檢測觸手可及。布魯克Contour X系列以“高適應性、易操作、低維護”為核心設計理念，幫助用戶將微納檢測從專業(yè)實驗室延伸至量產產線，為智能制造提供可靠的質量控制手段。

布魯克白光干涉光學輪廓儀形貌測量新維度布魯克Contour X系列白光干涉光學輪廓儀，以光學干涉技術為核心，通過非接觸式測量實現亞納米級表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm，橫向采樣密度達640×480點/次，可在5-20秒內完成單次掃描，兼顧效率與精度。