Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款優(yōu)良的三維光學(xué)表面輪廓儀，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用白光干涉技術(shù)，通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷，適用于多種材料和復(fù)雜表面的測量。Bruker白光干涉儀：表面測量解決方案

產(chǎn)品性能方面，布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀具備高精度和高分辨率，垂直測量范圍可達0.1nm至1mm，垂直分辨率小于0.1nmRa，RMS重現(xiàn)性可達0.01nm。設(shè)備支持多種測量模式，如相移干涉（PSI）和垂直掃描干涉（VSI），適用于不同表面特性樣品的測量。

在操作方面，設(shè)備配備直觀的用戶界面和優(yōu)化的分析軟件，支持數(shù)據(jù)處理速度提升幾十倍，分析速度提升十倍，支持數(shù)據(jù)無縫拼接和可視化操作工具，便于用戶快速完成測量和分析。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀適用于LED、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)療設(shè)備、MEMS等領(lǐng)域的表面形貌和粗糙度測量，是科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。Bruker白光干涉儀：表面測量解決方案

Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款基于白光干涉原理的三維光學(xué)表面輪廓儀，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用優(yōu)良的白光干涉技術(shù)，通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷，適用于多種材料和復(fù)雜表面的測量。

產(chǎn)品性能方面，Bruker白光干涉儀具備高精度和高分辨率，垂直測量范圍可達0.1nm至1mm，垂直分辨率小于0.1nmRa，RMS重現(xiàn)性可達0.01nm。設(shè)備支持多種測量模式，如相移干涉（PSI）和垂直掃描干涉（VSI），適用于不同表面特性樣品的測量。

在操作方面，設(shè)備配備直觀的用戶界面和優(yōu)化的分析軟件，支持數(shù)據(jù)處理速度提升幾十倍，分析速度提升十倍，支持數(shù)據(jù)無縫拼接和可視化操作工具，便于用戶快速完成測量和分析。

Bruker白光干涉儀適用于LED、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)療設(shè)備、MEMS等領(lǐng)域的表面形貌和粗糙度測量，是科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。