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BEUKER光學(xué)輪廓儀：高效表面分析方案? BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀提供穩(wěn)定的表面形貌測(cè)量方案，適用于科研與工業(yè)檢測(cè)。其模塊化設(shè)計(jì)支持多種測(cè)量需求，操作簡(jiǎn)便，數(shù)據(jù)可靠

BEUKER白光干涉儀：表面測(cè)量的可靠工具? BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀采用非接觸式測(cè)量技術(shù)，適用于微納米級(jí)表面形貌分析。其光學(xué)系統(tǒng)基于白光干涉原理，可清晰呈現(xiàn)樣品表面的三維形貌，適用于半導(dǎo)體、光學(xué)元件、精密加工等領(lǐng)域。