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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
白光干涉儀S neox:從二維到三維的視野





產(chǎn)品簡介
白光干涉儀S neox:從二維到三維的視野,突破二維觀察局限,通過三維形貌測量精準(zhǔn)量化表面高度、粗糙度及輪廓尺寸,實現(xiàn)從“看"到“量"的跨越,為表面分析提供客觀數(shù)據(jù)支撐。
傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡能夠提供高放大倍率的二維圖像,揭示表面的微觀細節(jié)和顏色對比,但對于表面的高度信息、紋理的起伏變化、結(jié)構(gòu)的深度等三維幾何特征,則無能為力。而正是這些三維信息,對于理解表面的功能特性至關(guān)重要。Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀的核心價值,在于它將觀察的維度從二維平面提升到了三維立體,實現(xiàn)了從“看"到“量"的跨越。
二維圖像雖然直觀,但缺乏定量的高度數(shù)據(jù)。例如,在二維圖像中,我們能看到一條劃痕,但很難準(zhǔn)確判斷其深度和橫截面形狀;我們能觀察到表面粗糙不平,但無法給出具體的粗糙度數(shù)值;我們能感覺到一個臺階的存在,但無法獲知其精確高度。
S neox通過白光干涉和共聚焦等技術(shù),獲取樣品表面的三維點云數(shù)據(jù)。每個數(shù)據(jù)點都包含了XY坐標(biāo)和精確的Z向高度信息。這些數(shù)據(jù)構(gòu)成了樣品表面的數(shù)字化三維模型?;谶@個模型,用戶可以進行一系列在二維圖像上無法實現(xiàn)的操作:
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三維粗糙度分析:可以計算符合國際標(biāo)準(zhǔn)的三維粗糙度參數(shù),這些參數(shù)比二維參數(shù)更能全面反映表面的統(tǒng)計特性。
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這種從二維到三維的轉(zhuǎn)變,使得表面質(zhì)量的評估從主觀的、定性的判斷,走向客觀的、定量的分析。它為科學(xué)研究提供了更豐富的數(shù)據(jù)支持,為工業(yè)生產(chǎn)建立了更精確的質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)。Sensofar S neox作為實現(xiàn)這一轉(zhuǎn)變的工具,幫助用戶在微觀世界中,不僅看清形態(tài),更能掌握尺寸,從而做出更深入的洞察和更可靠的決策。
白光干涉儀S neox:從二維到三維的視野
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