布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南

產品簡介

布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南
布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-100 憑借獨特的光學測量原理，具備多項實用性能，在多個領域展現(xiàn)出廣泛的應用價值，是工業(yè)生產與科研實驗中的重要測量工具。

產品型號：ContourX-100

更新時間：2025-10-23

廠商性質：代理商

訪問量：78

產品咨詢 17701039158

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

查看全部產品

共聚焦白光干涉儀用于表征增材制造中的工藝誘導形狀和表面紋理變化

Sensofar共聚焦白光干涉儀用于集成電路封裝

澤攸SEM/TEM原位分析微觀動態(tài)世界的實時探針

Sensofar S mart三維輪廓儀用于摩擦涂層的表面表征

詳細介紹在線留言

布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南

ContourX-100 是布魯克推出的臺式三維光學輪廓儀，型號為 ContourX-100，屬于非接觸式輪廓儀 / 粗糙度儀范疇，產地為馬來西亞。其核心依托白光干涉（WLI）技術，這一技術積累源于布魯克四十余年的光學創(chuàng)新經驗，可在單次采集過程中結合 3D WLI 與 2D 成像技術完成多項分析。該設備主打小尺寸設計，體積小于 330mm×330mm×550mm，重量不足 18kg，既能適配實驗室場景，也能滿足工廠車間的緊湊布局需求。

布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南

二、關鍵性能與適用場景

在測量性能上，ContourX-100 的 Z 軸分辨率不受放大倍率影響，能保持穩(wěn)定的測量表現(xiàn)。其配備的 500 萬像素攝像頭（2592×1944 分辨率）支持 1X、2X、4X 光學變焦，配合更新后的載物臺，可實現(xiàn)更大范圍的圖形拼接功能。針對不同反射率表面，設備能適配 0.05% 至 100% 的反射率范圍，無論是精密加工件的粗糙表面，還是薄膜的光滑表面，均能完成測量。

在應用場景中，該設備可覆蓋精密工程、MEMS 與傳感器、骨科 / 眼科等多個領域。以精密工程為例，它能監(jiān)測零部件的表面紋理與幾何尺寸，輔助評估 GD&T 合規(guī)性；在 MEMS 領域，可完成刻蝕深度、膜厚、臺階高度等參數(shù)的重復性測量。

三、核心組件與技術細節(jié)

設備的縱向掃描由閉環(huán)反饋壓電陶瓷驅動，縱向運動范圍達 100mm，壓電陶瓷驅動的掃描范圍為 500μm，兩者測量精度均可達 0.1nm，垂向掃描速度為 12μm/sec。載物臺尺寸為 100mm×100mm，支持手動和自動聚焦，具備四向傾斜水平調整功能，偏角調整范圍為 ±5°。

軟件系統(tǒng)搭載 VisionXpress™與 Vision64® 雙界面，內置上千項自定義分析功能和豐富的預編程濾鏡，可滿足 ISO 25178、ASME B46.1、ISO 4287 等多項標準的分析需求，能生成定制化報告。此外，設備還標配 SHS-CrOnSi-10um 臺階高度標準厚度片，用于校準與精度驗證。

四、使用價值與適配優(yōu)勢

ContourX-100 的設計兼顧了測量能力與操作便捷性，其自動功能包括自動拼接、散射和網(wǎng)格自動化，以及自動對焦、強度調節(jié)、數(shù)據(jù)保存等，能提升測量效率。對于需要移動辦公或多場景數(shù)據(jù)處理的用戶，設備配套的 Online 在線分析平臺支持上傳 fibps 格式文件，移動端 APP 可實現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲、查看與離線分析，進一步拓展了使用靈活性。這種硬件與軟件的組合，使其在臺式設備中具備較高的性價比，適合對測量精度和效率有雙重需求的用戶。布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南

上一個：PowerTome PCZ對比傳統(tǒng)機型：RMC超薄切片機技術迭代亮點