布魯克 ContourX-100 性能與用途介紹

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

布魯克 ContourX-100 性能與用途介紹
布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 憑借獨(dú)特的光學(xué)測(cè)量原理，具備多項(xiàng)實(shí)用性能，在多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值，是工業(yè)生產(chǎn)與科研實(shí)驗(yàn)中的重要測(cè)量工具。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-10-23

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：66

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測(cè)量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

澤攸ZEM20臺(tái)式電鏡技術(shù)解析?

ZEM18電鏡在工業(yè)檢測(cè)上的應(yīng)用

白光干涉儀以光波為尺，丈量納米級(jí)微觀世界

Sensofar S mart三維輪廓儀用于摩擦涂層的表面表征

詳細(xì)介紹在線留言

布魯克 ContourX-100 性能與用途介紹

布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 憑借獨(dú)特的光學(xué)測(cè)量原理，具備多項(xiàng)實(shí)用性能，在多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值，是工業(yè)生產(chǎn)與科研實(shí)驗(yàn)中的重要測(cè)量工具。

布魯克 ContourX-100 性能與用途介紹

性能特點(diǎn)方面，ContourX-100 采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)，無需與樣品表面直接接觸，可避免傳統(tǒng)接觸式測(cè)量對(duì)樣品表面造成的劃傷或損傷，尤其適合柔軟、脆弱或表面易受損的樣品，如高分子材料、生物組織切片等。測(cè)量過程中，設(shè)備通過光學(xué)系統(tǒng)捕捉樣品表面的光學(xué)信號(hào)，結(jié)合算法重建三維形貌數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)處理速度較快，能在短時(shí)間內(nèi)生成直觀的三維形貌圖與詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告，包含表面粗糙度、臺(tái)階高度、曲率半徑等關(guān)鍵參數(shù)，為后續(xù)分析提供全面數(shù)據(jù)支持。同時(shí)，設(shè)備具備良好的環(huán)境適應(yīng)性，內(nèi)置溫度補(bǔ)償模塊，可在一定溫度范圍內(nèi)自動(dòng)調(diào)整參數(shù)，減少環(huán)境溫度變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，確保在實(shí)驗(yàn)室、車間等不同環(huán)境下均能保持穩(wěn)定的測(cè)量性能。

用途場(chǎng)景上，ContourX-100 在工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。在半導(dǎo)體行業(yè)，可用于芯片表面形貌檢測(cè)，測(cè)量芯片線路的高度差、線寬以及表面平整度，輔助判斷芯片制造過程中的工藝缺陷；在汽車零部件生產(chǎn)中，能檢測(cè)零部件表面的粗糙度與磨損程度，評(píng)估零部件的加工精度與使用壽命；在光學(xué)元件制造領(lǐng)域，可對(duì)鏡頭、鏡片表面的曲率、平整度進(jìn)行測(cè)量，保障光學(xué)元件的光學(xué)性能。

在科研領(lǐng)域，ContourX-100 同樣發(fā)揮重要作用。材料研發(fā)過程中，可用于分析新材料表面的微觀形貌與結(jié)構(gòu)特征，研究材料制備工藝對(duì)表面性能的影響；生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，能對(duì)生物組織切片、細(xì)胞表面形貌進(jìn)行觀察與測(cè)量，為生物結(jié)構(gòu)研究與醫(yī)學(xué)診斷提供數(shù)據(jù)參考；在涂層技術(shù)研究中，可測(cè)量涂層厚度、均勻度以及涂層與基底的結(jié)合界面形貌，評(píng)估涂層質(zhì)量與性能。

此外，ContourX-100 還支持與其他分析設(shè)備聯(lián)動(dòng)，如與掃描電子顯微鏡配合使用，可同時(shí)獲取樣品的三維形貌數(shù)據(jù)與微觀結(jié)構(gòu)信息，為跨維度分析提供便利，進(jìn)一步拓展了設(shè)備的應(yīng)用范圍。布魯克 ContourX-100 性能與用途介紹

上一個(gè)：解密布魯克 ContourX-100：參數(shù)與用材細(xì)節(jié)