在材料科學(xué)、生物研究、電子元器件等眾多領(lǐng)域，觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)是一項(xiàng)基礎(chǔ)而重要的工作。傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡由于分辨率限制，難以滿足納米尺度的觀測需求。澤攸科技的ZEM20臺式掃描電子顯微鏡（SEM），為實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線提供了一種較為便利的微觀觀測方案。

ZEM20是一款設(shè)計(jì)緊湊的臺式掃描電鏡，它打破了傳統(tǒng)落地式電鏡對場地和環(huán)境的高要求。其整體尺寸小巧，可以輕松安置于標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)臺上，無需特殊的安裝基礎(chǔ)。儀器外觀簡潔，操作界面直觀，旨在降低用戶的學(xué)習(xí)和使用門檻。

在核心性能方面，ZEM20采用了熱發(fā)射電子槍作為電子源，提供了穩(wěn)定的發(fā)射電流。其分辨率指標(biāo)優(yōu)于3.5納米（30kV下），這意味著它能夠清晰展示大多數(shù)細(xì)菌的形態(tài)、納米材料的輪廓、金屬斷口的細(xì)節(jié)等。加速電壓在1kV至30kV范圍內(nèi)可調(diào)，用戶可以根據(jù)樣品的性質(zhì)（如導(dǎo)電性、耐電子束損傷能力）靈活選擇，實(shí)現(xiàn)對導(dǎo)電、非導(dǎo)電及部分敏感樣品的觀測。

考慮到使用的便利性，ZEM20配備了*的真空系統(tǒng)。其樣品室抽真空時(shí)間較短，從放入樣品到獲得圖像，準(zhǔn)備流程簡潔。樣品臺可進(jìn)行五軸移動（X, Y, Z, 傾斜，旋轉(zhuǎn)），方便用戶快速定位感興趣的區(qū)域。樣品倉室設(shè)計(jì)合理，最大可容納直徑達(dá)100毫米的樣品，為觀測不同尺寸的樣品提供了靈活性。

澤攸ZEM20不僅是一臺觀測設(shè)備，更是一個開放的微觀分析平臺。標(biāo)準(zhǔn)配置下包含高效率和背散射電子探測器，可以同時(shí)獲取樣品表面形貌和成分襯度信息。用戶還可根據(jù)后續(xù)需求，選配能譜儀（EDS）等附件，實(shí)現(xiàn)樣品微區(qū)元素的定性定量分析，拓展其應(yīng)用范圍。

總而言之，澤攸ZEM20臺式掃描電鏡以其適中的性能、緊湊的設(shè)計(jì)和便捷的操作，為眾多需要進(jìn)入微觀世界的用戶打開了一扇窗。

ZEM20 基本參數(shù)表