ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡是澤攸科技ZEM系列中的一款高性?xún)r(jià)比臺(tái)式掃描電子顯微鏡，采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，如真空分隔技術(shù)，通過(guò)電子槍與樣品倉(cāng)的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。設(shè)備具備超大樣品倉(cāng)和高清攝像頭，支持原位實(shí)驗(yàn)擴(kuò)展，滿足科研的多樣化需求。

ZEM20的操作界面簡(jiǎn)潔，操作便捷，支持一鍵完成樣品觀察與圖像分析。其成像速度快，抽真空時(shí)間小于30秒，光學(xué)導(dǎo)航與艙內(nèi)攝像頭支持快速找樣，樣品艙實(shí)時(shí)觀察，軟件支持自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散等功能，提升操作效率。設(shè)備具備高分辨率成像能力，分辨率可達(dá)4nm@20kV，放大倍數(shù)最高可達(dá)36萬(wàn)倍，適用于高精度微觀結(jié)構(gòu)分析。

ZEM20適用于材料科學(xué)、電子制造、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)質(zhì)檢及科研教育等領(lǐng)域，具有高效便捷、靈活拓展和廣泛適配的優(yōu)勢(shì)。其高性?xún)r(jià)比和良好的性能，使其成為高校、研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)的重要選擇。