澤攸科技推出的ZEM20臺式掃描電子顯微鏡（SEM）是一款集成了多項創(chuàng)新技術(shù)的高性價比設(shè)備，適用于材料科學(xué)、電子制造、生物醫(yī)學(xué)等多個領(lǐng)域。該設(shè)備采用預(yù)對中鎢燈絲電子源與真空分隔技術(shù)，具備高分辨率成像與快速操作體驗。其緊湊設(shè)計和超大樣品倉，便于用戶進行樣品觀察與分析。設(shè)備支持三軸或五軸樣品臺，配備SE/BSE探測器，可選配EDS能譜分析，滿足多樣化的科研需求。

ZEM20的操作界面簡潔，操作便捷，支持一鍵完成樣品觀察與圖像分析。其成像速度快，抽真空時間小于30秒，光學(xué)導(dǎo)航與艙內(nèi)攝像頭支持快速找樣，樣品艙實時觀察，軟件支持自動亮度對比度、自動聚焦、自動消像散等功能，提升操作效率。設(shè)備具備高分辨率成像能力，分辨率可達4nm@20kV，放大倍數(shù)最高可達36萬倍，適用于高精度微觀結(jié)構(gòu)分析。

ZEM20適用于材料科學(xué)、電子制造、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)質(zhì)檢及科研教育等領(lǐng)域，具有高效便捷、靈活拓展和廣泛適配的優(yōu)勢。其高性價比和良好的性能，使其成為高校、研究機構(gòu)和企業(yè)的重要選擇。